高機能SOC/ANALOGテストシステム Model 3680

高機能SOC/ANALOGテストシステム
特長
  • デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由)
  • 最大データレート150 Mbps
  • 最大512パラレルテスト対応
  • 最大2048デジタルI/Oピン
  • 最大256 MWパターンメモリ(512MWオプション) 
  • 最大64チャンネルPMU(高精度DC測定) 
  • タイミング測定/DC測定(PPMU)/周波数測定を全ピン装備
  • 最大8G/スキャン  (16Gオプション)
  • タイミングエッジ精度 (EPA) : ±150ps
  • 最大128チャンネル DPS(デバイス電源)
  • HDADDA2(デジタイザ/任意波形発生)オプション
  • 高電力HCDPSアナログオプション
  • 高周波測定HDAVOオプション
  • 多チャンネルHDVIアナログオプション*
  • 多チャンネルHDRF オプション*
  • ダイレクトプロービングシステム*
  • マルチドメインファンクション*
  • OS : Microsoft Windows® 10
  • プログラム言語 : C#.NET and GUI
  • オペレーションシステム : CRISPro, 
  • 他社テスタからのプログラムサポート
  • 他社テスタのテストボードサポート
  • 標準仕様STDFサポート
  • 全機能をテストヘッドに実装
  • 省スペース、空冷システム
* Call for availability

半導体は、高集積化及び高機能化により、多くの用途に使われ進化しています。
この進化に対応できる高機能テスタが、求められています。

Chroma最新3680テストシステムは、デバイスの幅広い機能及び、様々なテスト要求に応えられる、柔軟なシステム構成を準備しています。 テストヘッドにいろいろな測定機能基板を、実装できるスロットを、24か所準備しています。
デジタル測定として、最大2048ピン/測定速度1Gbps/ベクタメモリ容量256MW/総合タイミング精度±150psの高精度高速を実現できます。
また、アナログ測定として、HDADDA2(高速ADC/DAC測定機能)/HDVI(高電圧測定機能)/HDAVO(高周波測定機能)/400MspsAWG(任意波形発生機能)、250MspsDIG(デジタイザ機能)/高精度高周波測定用24ビットAWG&DIGのオプションをそろえています。

3680は、AC/DC電源用メインフレームからテストヘッドに電源を供給します。
また、テストヘッドをマニュピュレータで抱えることで、各種自動機(ハンドラ/プローバ)に、容易に接続することができます。

本システムは、高効率測定/多数個同時並列測定により、開発現場及び量産現場の生産性向上に寄与します。
また、高速/高精度/高信頼性及び、使いやすい操作環境で、各種民生用デバイス/高機能マイクロプロセッサ/アナログデバイス/SOC測定のサポートをします。

 用途

  • マイクロプロセッサ (MCU)
  • デジタルオーディオ
  • デジタルTV (DTV)
  • 放送機器用デバイス(STB)
  • 高速信号処理プロセッサ (DSP)
  • ネットワークプロセッサ
  • プログラム可能ゲートアレイ(FPGA)

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