致茂電子 Chroma 7980 2D/3D 晶圓量測系統 榮獲 EE AWARDS ASIA 亞洲金選獎。在超過 170 家全球企業、400 份參賽作品的激烈角逐中，獲得EE Times、EDN評審團及亞太區讀者的高度認可。此獎項不僅肯定了其作為工程師心目中理想產品的地位，更表彰了引領電子產業發展的傑出貢獻。

專為先進封裝痛點打造：次奈米解析度，全面提升製程良率

Chroma 7980 為半導體先進封裝（如 CoWoS、InFO 等）而開發，採用專利BLiS^TM整合量測技術，專為奈米級之關鍵尺寸精密量測而設計；提供專為應用而開發的演算法和UI，實現高速量測和快速對焦之表面輪廓分析，且具備大面積拼接能力，可滿足先進封裝製程中：TSV/VIA, RDL, Probe Mark, Overlay, Sub-um Surface Profile等複雜結構的精密量測要求，為全球半導體客戶的製程良率帶來突破性提升。

▲致茂電子光學檢測事業部副總經理鄭子彥代表領獎

「Advancing Excellence」持續領航，成為客戶信賴的長期夥伴

本次榮獲金質獎，是對致茂電子自主研發實力與創新精神的最大肯定。Chroma 始終秉持「Empowering future technologies for a better world」的企業願景，堅守「Enabling quality innovation at every step with reliable solutions」的使命。未來，我們將持續以 「Advancing Excellence」 為核心，深化研發投入，提供更多具備國際競爭力的創新量測解決方案，協助全球半導體與高科技產業在品質與良率管理上持續精進，並成為客戶最值得信賴的長期合作夥伴。