除了示波器,您有更好的手機充電器共模雜訊量測方案!

01 Sep 2020

研究發現智慧型手機使用電容屏的多點觸控螢幕,在充電過程中來自AC-DC充電器所產生的共模雜訊電壓突波在觸控時進入面板,嚴重影響觸控性能,常導致觸控讀取不準確或造成假性觸控訊號,因此手機廠商合力制定IEC62684標準,來規範電池充電器的雜訊頻譜規格。

充電器共模雜訊干擾手機觸控
▲充電器共模雜訊干擾手機觸控
(參考來源: Study of Common-Mode Voltage Measurements for IEC62684; Publisher: IEEE)

出於安全考量,手機充電器設計以變壓器進行一、二次側隔離,當手機連接充電器時,充電器內的隔離變壓器中的寄生電容會與手機本體對大地的寄生電容形成分壓效果,而在手機上產生一共模電壓,如果共模電壓過大就會影響手機造成觸控誤動作等問題,因此充電器廠紛紛尋求能快速、穩定的共模雜訊生產測試方案,以確保每一個產品的電磁干擾特性都符合規範。

IEC62684 MoU標準規範定義了行動裝置充電器的共模雜訊組成成分、規格限值與量測設置建議,致茂電子經過不斷的測試驗證與調適,提出了符合規範要求且能快速穩定地進行充電器共模雜訊量測方案;致茂自行研發設計的雜訊量測裝置應用於敏感的共模雜訊量測,可有效濾波排除不穩定、不連續等非預期的干擾突波,穩定正確的量測共模雜訊,經連續重複實驗證實每次數值測量差異約<20mV,遠小於使用示波器的100mV~200mV不等的數值跳動;除此之外,Chroma 雜訊量測分析儀的差模量測架構有別於示波器共地架構,可避免在multi-UUT測試時,待測物輸出共地造成雜訊特性互相影響問題,搭配Chroma適配器/充電器自動化測試系統,單次量測4顆待測物共模雜訊時間不到2秒,可滿足產線快速量產測試需求,避免此重要特性只能局部抽檢的窘境。

充電器共模雜訊測試架構

▲充電器共模雜訊測試架構

配接器/充電器自動測試系統
Model 8020