三溫系統級測試機 Model 3260

三溫系統級測試機
三溫系統級測試機
產品特色
  • 最大封裝尺寸:3 mm × 3 mm – 45 mm × 45 mm
    • 選配項目:
      • 3 mm × 3 mm – 55 mm × 55 mm
      • 3 mm × 3 mm – 70 mm × 70 mm
  • 穩定可靠的高速取放式分選機
  • 同步雙吸嘴取放設計
  • 空氣阻尼器確保接觸平衡
  • 裝置防護功能(卡料 / 餘料檢測、測試座溫度控制)
  • 智能良率優化系統
  • 支援堆疊封裝(PoP)測試方案
  • 整合射頻(RF)測試能力
  • 通用轉換治具設計

選配項

  • 相容三溫測試:-40 °C 至 150 °C,具快速溫度反饋系統
  • 高功率 PTC 模組:450 W熱負載下Device溫度維持低於80 °C

Chroma 3260 Full Range ATC系統級測試(SLT)分選機具備堅固的六站式架構,支援-40 °C至150 °C的三溫測試,冷卻能力高達1,800 W。搭載三溫Sea Cobra-E Gen 1熱引擎,可提供TSD功能,實現精確的T-junction監控以及快速、即時的溫度回饋。

該系統亦可搭載高功率PTC模組,在高達450W的熱負載下,仍能將裝置溫度維持於80 °C以下。3260三溫SLT測試分選機提供靈活的測試模式,不僅可同時進行多站測試,亦能針對不同測試站設定獨立的溫度條件。根據不同應用情境,可快速切換溫度條件,有效縮短等待時間。針對如PoP及RF測試等進階測試場景所優化,3260可在嚴苛的熱環境中提供高速、可靠且一致的測試效能。

Chroma 3260 Tri-Temp SLT Handler
▲ 溫度切換時間


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