晶片測試分類機 Model 3112

晶片測試分類機
晶片測試分類機
產品特色
  • 高信賴度之PnP自動化測試分類機
  • x4 多盤置入自動測試分類
  • 全方位(X/Y/Z/θ)可調式探針座模組
  • 測式座產品堆疊檢測
  • x12輸出分類盤可程式設定輸出類別
  • 全程即時良率顯示與控制
  • 全程探針接觸狀態顯示(選配)

Chroma 3112具備單頭與多頭之適合量產的PnP 自動化晶片測試分類機,可藉由治具變更處理各種不同尺寸規格之晶片測試與分類。此設備透 過PnP方式將晶片自晶片盤載入至測試站中,精確的測試後依據測試結果穩定的放置於分類盤中。其高效率的模組化設計與精準的機構傳動 結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產要求,多重檢查功能裝置可降低待測物發生異常的損壞。

晶片測試運用此自動化測試分類技術不僅能提升 生產效率、減少人力需求,同時也增加了測試穩定度及測試良率。此外,其簡潔的機台設計更可節省機台於測試廠之佔地面積,幫助客戶大幅降低生產成本。


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