三溫測試分類機 Model 3110-FT

  • CE Mark
三溫測試分類機
產品特色
  • 適用於終端測試 (Final Test)
  • 可設定溫度範圍-40℃~125℃
  • 支援的晶片尺寸從3x3mm到45x45mm
  • 具有4個產品分類料盤
  • 支援遠端控制操作
  • 具有測試良率控制功能
  • 具有連續自動重測功能
  • 具有即時監控產品分類功能
  • 整合Chroma混合型冰水機
  • 支援TSD溫度控制
  • 最佳工程三溫特性測試平台
  • UPH最高可達500pcs
  • 控制下壓觸力在1到10kg (選配)
  • Socket溫度補償模組 (選配)
  • 可支授系統層級測試 (SLT) (選配)

Chroma 3110-FT為一台適用於IC終端測試(Final Test)工程產品特性及測試開發用途之測試分類設備。

3110-FT支援多種晶片測試,可支援的晶片尺寸從3x3mm到45x45mm。亦可加選遠端監控功能,操作者得以在任何地點透過網路操作以增加設備使用率。3110-FT三溫測試分類機同時包含預溫區,可改善測試時間及產出;配有2個自動分料盤及2個手動分料盤,在僅1.4m²的空間發揮最佳的IC分料能力以節省成本與時間。

整合Chroma混合型冰水機與TEC致冷晶片溫度控制器後,3110-FT可於進行測試三溫測試時,同時控制殼溫及接面溫度。

3110-FT可支援大部分產業的標準通信介面以及提供不同種類測試設備的對接方式。可精準控制溫度範圍從-40℃到125℃。具有易於操作的軟體介面以及可快速更換待測產品之設計。將可大幅縮短停機時間而進一步提高使用效率及產能。


產品詢價

所有規格如有更改,恕不另行通知。
選擇
型號
敘述

三溫測試分類機