LED 芯片點測系統 Model 58212-C

LED芯片點測系統
LED芯片點測系統
產品特色
  • 高速及高精度
  • 支援水平型,垂直型和倒裝型芯片
  • 完整LED電性測試範圍 (200V/2A)
  • 可支援到8英吋晶圓
  • Chroma大面積光偵測器
  • 強大的芯片位置掃描算法
  • 外部光屏蔽設計
  • 完整的分析工具和統計報告

Chroma 58212-C是一台自動化的LED外延片/芯片探針測試設備,提供快速、準確的LED測量測且整體量測時間<125ms。*1

系統的設計採用了靈活的設計為不同類型的LED結構包括橫向型,垂直型和倒裝芯片類型。用戶可以選擇合適的結構類型LED測量。完整掃描程序可提供獨立的晶圓圖以保證測試的精度。專利的探針頭可防止待測物的刮傷並確保每一個LED接觸。

透過Chroma獨特的光學設計與元件可取得精確且穩定快速之光學數據如主波長、峰波長、色溫等, 該系統具備完整之電性量測單元,無論順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓等LED電性特性,均可於一次滿足使用者的測試需求。

58212-C包含彈性調整的軟體操作界面及先進的邏輯演算法使得生產效益大幅提升;完善的統計報表及分析工具可以讓使用者用輕鬆掌握生產狀況。

Note *1:測試條件在間距300um、5道電性測項、1道光學測項條件下取樣。由於LED的特性的差異,測量結果可能會有所不同。

 測試項目

電源特性量測

  • Forward Voltage Measurement (Vf) 
  • Reverse Breakdown Voltage Measurement(Vrb) 
  • Reverse Leakage Current (Ir) 
  • SCR Detection

光特性量測

  • Optical Power (mw, lm, mcd) 
  • Dominant Wavelength (Wd) 
  • Peak Wavelength (Wp) 
  • Full Width at Half Maximum (FWHM) 
  • CIExy - CCT - CRI

 硬體設備

  • 自動化 LED Wafer/Chip點測設備
  • 電性測試模組
  • 光學測試模組
  • 選配ESD測試模組

產品詢價

所有規格如有更改,恕不另行通知。
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