光電元件晶圓點測系統 Model 58635 Series

光電元件晶圓點測系統
產品特色
  • 依據ISO/IEC標準
  • 最大可測試6吋晶圓
  • 寬廣的測試範圍與高精準溫度控制
  • 同時支援Pulse與CW模式操作
  • LIV量測:Model 58635-L
    近場量測:Model 58635-N
    遠場量測:Model 58635-F
  • 支援Multisite測試

隨著光電元件的技術越趨成熟,應用也越來越廣泛。其中,雷射二極體 (Laser Diode) 除通訊應用外,也朝消費性應用擴展。因應此全新市場,致茂電子藉由多年累積之光電量測技術,開發專為消費性應用之光電元件晶圓點測系統Model 58635系列機種。

58635系列最大可測試6吋晶圓,並搭配致茂電子之精密測試儀器設備,如電流源與溫度控制器,能滿足雷射二極體測試之嚴苛要求,雷射二極體相關光電特性參數隨溫度變化而有所變異,58635系列機種精準之溫度控制,能提供最穩定、最準確之量測數值。

Model 58635系列因應不同測試需求,共包含3機種:58635-L,58635-N,以及58635-F。

LIV量測系統

致茂電流源提供準確穩定之電流源以及電壓量測,搭配積分球與光譜儀,提供準確之光功率與波長量測。藉由58635-L完整之軟體功能,所有LIV與波長之相關參數均能在此量測。

近場量測系統

58635-N參照ISO關於雷射近場量測之相關規範,對於雷射二極體之光束傳播比例 (Beam Propagation Ratio) 或光束品質 (Beam Quality) 之相關參數,提供精準快速之量測。

遠場量測系統

58635-F針對雷射二極體之遠場光學特性進行測量,諸如雷射之發光角度。另參照IEC人眼安全相關規範,58635-F能於遠場找尋光束最強之處,從而判斷是否符合人眼安全相關規範。

 應用範圍

application


產品詢價

所有規格如有更改,恕不另行通知。
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光電元件晶圓LIV點測系統

光電元件近場量測點測系統

光電元件遠場量測點測系統

Photonics Device Probing LIV & NF Test System