微型IC測試分類機 Model 3270

微型IC測試分類機
產品特色
  • 適合CMOS影像感應元件量產需求
  • 可靠的高速Pick&Place分類機
  • 3x3mm微型IC處理能力
  • 浮動頭可有效率平衡測試壓力
  • IC殘留檢測功能

 


Chroma 3270是一款創新的微型IC測試分類機,特別適合CMOS影像感應元件(CMOS Image Sensor, CIS)量產所需,Chroma 3270可配合多種不同的封裝類型包括傳統的QFP、TQFP、μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270採用Pick&Place技術,可從JEDEC夾盤來拾取IC,移動到 測試位置,然後將測試後產品置於適當之Tray盤。

Chroma 3270能同時處理32個待測物進行平行測試,並提供50˚C~125˚C高溫測試選擇。不但能提高產量,提升生產良率,同時大幅降低測試成本。


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