無線射頻分類機 Model 3240-Q

無線射頻分類機
無線射頻分類機
產品特色
  • 符合成本效益的RF整合方案
  • 客製RF隔離室和整合Tester安裝
  • 可調整測試間距至120mm
  • 具有八個平行測試站點
  • 支援的晶片尺寸從3x3 mm到45x45mm
  • 精確的定位能力
  • 支援JEDEC和EIA料盤

3240-Q是一台獨特且創新、整合了射頻和無線隔離室之自動分類機。此機台配置多達八個測試站點和獨立的隔離作平行測試。3240-Q具有順暢的自動化測試、精確的Pick&Place技術、彈性的多測點架構、高產能和低Jam Rate等優勢,適用於射頻和無線晶片測試。

3240-Q也可依據測試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動送料/分料盤設計,3240-Q適用於JEDEC和EIA料盤規範。另有選配的加強溫控的測試能力,可提供高達150℃之高溫測試環境。


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