低高温(ATC)ICテストハンドラ Model 3110-FT

  • CE Mark
低高温(ATC)ICテストハンドラ
特長
  • 設定可能温度 -40~125℃
  • FT試験及びSLT試験対応
  • 測定可能パッケージ寸法 3x3 mm~45x45 mm
  • コンタクト圧制御可能範囲 1~10 kg (オプション)
  • 分類トレイ最大4分類(ソフトウエア分類上限なし)
  • リモートコントロール オペレーション
  • 歩留監視機能搭載
  • インテリジェントオートリテスト&オートリトライ機能搭載
  • リアルタイム トレイステータス

※詳細仕様は当ページ内「カタログ」タブよりご覧ください。


評価やテスト開発に理想的なChroma 3110-FTは、ファイナルテストやシステムレベル テストにおけるICテストに対して革新的なハンドラーです。本ハンドラーは、様々なデ バイスタイプや、様々なデバイスサイズ(3x3mmから45x45mm)をハンドリングする ことが可能です。更に生産性を上げるために、3110-FTはオプションにてリモートコン トロールを提供します。リモートコントロールは、インターネット接続により、別の 場所からハンドラーを操作することを可能とします。また、2つのオート分類トレイと 2つのマニュアル分類トレイの装備により、コストと時間を節約するため、3110-FTは 1.4mm2のフロアスペース内でハンドリング能力を最大限発揮します。

3110-FTは、ほとんどの工業標準インタフェースをサポートする様に設計されているとともに様々なテスタに対応するため、異なった接続オプションを用意しています。また、デバイスの耐久性を確認する-40℃~+125℃のテスト環境をサポートすることが可 能です。加えて、ユーザーにフレンドリーなグラフィックインタフェースと機敏なデバ イスのセットアップにより、ハンドリングは短く容易であり、更にフレキシビリティと 生産性を増加しています。


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