半導体技術の進歩に伴って世界は変化していきます。AIと5Gが繋がり、自動運転とビッグデータ解析が繋がり、携帯機器にすべての情報が集約される時代です。半導体テストシステムは、あらゆる種類の機能を小さなシステムに統合する必要があり、新しい時代のエレクトロニクスへと変革する必要があります。PXIベースのプラットフォームは、新しい時代のニーズを満たすための方向性を示しています。クロマのPXIe半導体テストソリューションは、様々なサプライヤの機能的な計測モジュールを統合しながら、半導体テストを実行するための環境を提供します。

33021は、48V@250mAで駆動するPXIeベースの電源モジュールです。出力電流は、チャンネルを並列させることで最大500mAまで増やすことができます。また18bitのforce電圧分解能と18bitの測定電圧分解能を有し、1Mspsサンプリングレートによって出力電圧と電流のデータを読み取り、内蔵のソースとキャプチャメモリに保存することができます。さらに、設定可能な電圧および電流保護クランプは、危険なく電源を十分にコントロールできるように設計されています。

LabViewとLabWindowsのサポートに加え、独自のソフトウェアツールCRAFTを提供しています。CRAFTは、テストプログラムの開発からデバッグ、プロダクション、メンテナンスまで、半導体テストに必要なツールを網羅しています。プロダクションツールには、"Operator Interface"、"Test data output"、"Binning and Sequence Control"、"Wafer Map"、"Summary Tool"と豊富なプローバ/ハンドラドライバを含み、デバッグツールには、"Data log"、"Plan Debug"、"TCM"、"SHMOO"、"Pattern Editor"、"Waveform"など、その他サブセットを含みます。また、WGL/STIL/VCD/EVCD変換に対応したサードパーティ製CAD→ATEパターン変換ツールにも対応しています。