Chroma 58212-Cは全自動化のLEDエピタキシャルウェファー/チップスポット測定設備、高速で正確なLED測定を提供し、しかも全体の測定時間は125ms未満です。*1

システムの設計は水平型、垂直型、フリップ型など、様々なタイプのLED構造のために柔軟なデザインを採用しています。ユーザーはLED測定に適合な構造タイプを選べます。完全なスキャンプログラムはテストの精度を保証するために独立なウェハマップを提供できます。特許があるプローブヘッドは被測定物のひっかき傷を防ぎ、各LEDとの接触を確認できます。

Chroma独自の光学設計と要素により、主波長、ピーク波長、色温度などの正確で安定した高速の光学データを取得できます。システムは完全な電気測定ユニットを備え、順方向電圧、漏れ電圧、逆方向崩壊電圧などのLEDの電気特性に関係なく、ユーザーがテストへのニーズを全部満足できます。

58212-Cは柔軟な調整ができるソフトウェア操作インターフェースと高度なロジックアルゴリズムが含め、生産効率を大幅に向上させます。完全な統計レポートと分析ツールにより、ユーザーは生産状況を簡単に把握できます。

Note *1: テスト条件は、300um間隔、5つの電気テスト項目、1つの光学テスト項目の条件でサンプルを取ります。LEDの特性の違いにより、測定結果が異なる場合があります。

電源特性測定

• Forward Voltage Measurement (Vf) 
• Reverse Breakdown Voltage Measurement(Vrb) 
• Reverse Leakage Current (Ir) 
• SCR Detection

光の特性測定

• Optical Power (mw, lm, mcd) 
• Dominant Wavelength (Wd) 
• Peak Wavelength (Wp) 
• Full Width at Half Maximum (FWHM) 
• CIExy - CCT - CRI

• 自動化 LED Wafer/Chipスポット測定設備
• 電気テストモジュール
• 光学テストモジュール
• オプションESDテストモジュール