Chroma 3270是一款創新的微型IC測試分類機，特別適合CMOS影像感應元件(CMOS Image Sensor, CIS)量產所需，Chroma 3270可配合多種不同的封裝類型包括傳統的QFP、TQFP、μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270採用Pick&Place技術，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動到 測試位置，然後將測試後產品置於適當之Tray盤。

Chroma 3270能同時處理32個待測物進行平行測試，並提供50˚C~125˚C高溫測試選擇。不但能提高產量，提升生產良率，同時大幅降低測試成本。