三溫測試分類機 Model 3111

  • CE Mark
三溫測試分類機
三溫測試分類機
產品特色
  • 適用於系統功能檢測(SLT) 
  • 機台尺寸:600mm(W) x 570mm(D) x 860mm(H) 
  • 支持最大測試版尺寸為200mm(W) x 200mm(D) 
  • 桌上型設計僅占較小空間
  • 可放置兩個JEDEC料盤
  • 支援5x5mm到45x45mm晶片尺寸
  • 可由軟體介面設定分類數
  • 測試頭內建氣室,可吸收及減緩下壓觸力衝擊
  • 優化的IC下壓接觸平整度
  • 優化的Socket使用壽命
  • IC堆疊防護
  • 連續性自動重測功能
  • 最高可達125℃測試溫度
  • 1/3000 jam rate 
  • CE認證

Chroma 3111迷你桌上型單站的自動化測試分類機適用於系統功能檢測,也同時具備終端電性測試的能力,系統支援各種不同類型的封裝晶片,支援的晶片尺寸從5x5mm到45x45mm。

Chroma 3111同時包含廣闊的晶片尺寸測試,即便在複雜的測試要求環境下也對智慧手機,電腦,車用的IC也同樣有著高效率的測試產出效率為提升產能,3111具備遠端功能可於任何地點透過網路連接方式進行控制,3111可用軟體設定JEDEC料盤的分配以及進行工程測試,在60公分平方的空間裡發揮最大的效用以節省時間和成本,簡易操作的系統介面(Windows™)提供一個快速且容易的設定方式,可簡化流程並提高效率。


產品詢價

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桌上型單站測試分類機