V-by-One信號介面廣泛應用於大尺寸、高畫質、高解析度和高色彩深度與以往信號介面比較能減少信號線數，有助於降低成本達成輕量化，同時解決信號傳輸速度的高速化所帶來的傳輸線之間信號的時滯問題達到高速遠距離的目的。A291802信號模組遵循V-by-One HS V1.4規範標準，支援4 / 8 / 16 Lanes輸出，最高傳輸速率3.75Gbps/lane，最高可擴充至64 Lane Count（4個A291802模組並聯）同時進行輸出，支援8K UHD（Ultra High Definition）影像輸出，搭配Chroma 2918主機測試畫面解析度最高可至8K（8192 X 4320）@120Hz，提供使用者多種彈性之組合檢測方案。
A291802為達到各種顯示畫面的組成（Data Mapping），支援多種V-by-One信號模式在分割、排列、組合對應8 / 16 / 32 / 64Lanes，符合各種式樣面板的Data Mapping設計。
色彩深度可支援6 / 8 / 10 bits供測試選擇，例如色深10 bits指每一個原色被劃分成1024級（210），約可呈現高達10.7億種顏色（210 R* 210 G* 210 B），提供使用者自行編輯檢測應用。
在信號傳輸的臨界測試A291802支援32段Pre-Emphasis檔位設定（0 / 0.22 / 0.45 / 0.68 / 0.92 / 1.16 / 1.41 / 1.67 / 1.94 / 2.21 / 2.50 / 2.79 / 3.10 / 3.41 / 3.74 / 4.08 / 4.44 / 4.81 / 5.19 / 5.60 / 6.02 / 6.47 / 6.94 / 7.43 / 7.96 / 8.52 / 9.12 / 9.76 / 10.46 / 11.21 / 12.04 / 12.96 dB），可模擬輸出偏移標準信號之外，以進行待測物極限值的相關測試。
A291802支援16段Swing Level檔位設定（253 / 316 / 377 / 439 / 499 / 561 / 621 / 682 / 743 / 799 / 857 / 909 / 959 / 1002 / 1043 / 1074 mV）在信號傳輸的臨界測試，可模擬輸出偏移標準信號，以進行待測物極限值的相關測試。
SSC（Spread Spectrum Clocking）展頻時脈信號，為降低設備本身產生的電磁干擾（Electromagnetic Interference，EMI），透過改變或分散信號在同頻率的集中或時鐘邊際效應以減少峰值輻射功率，進而減少設備間的互相干擾，A291802內建中心展頻（Center Spread）之SSC設定模式，提供開啟/關閉30000 Hz的調變頻率中0.5%範圍。
在液晶螢幕的面板顯示品質檢測，A291802符合V-by-One HS V1.4規範標準，提供3 Bytes、4 Bytes、5 Bytes三種封包格式（Packet Type）的檢測選擇，使用者可依待測面板所需封包格式，設定A291802送出對應的格式信號，進而快速檢視顯示面板是否能正確點亮。
A291802配備溫度感知（Temperature Sensing），監控模組溫度之變化並回饋給至控制單元，當內部溫度升高時溫度感測器會隨之提高風扇轉速，反之則降低轉速，以此監測方式自動調節風扇流速，減少工作環境之噪音並同時維持機體最佳運作溫度，提高機器使用年限。
提供電源、信號、控制腳位各別獨立啟動，可編輯時序最小單位為1ms。使用者自行設定電源、信號、控制腳位的輸出領先/落後之時序，關閉時序亦可以依據使用者需求設定。
靜電衝擊對電子產品是需要解決的問題，正常操作的電子產品，一旦受到靜電放電Electrical Static Discharge（ESD）作用時，常會出現一些不穩定的現象，甚至功能失常或損壞之情形等。為了避免積體電路在生產過程中被靜電放電所損傷，A291802符合IEC/EN 61000-4-2靜電防護能力（15KV Air / 8KV Contact Discharge），內建靜電放電防護電路提供了ESD完整保護，以避免遭遇ESD衝擊時對內部電路之損壞。
在新世代的面板可變更新率技術，可透過A291802的高速更新率優勢進行產品在面對影像更新連續變化檢測下確定待測物功能是否完善，配備4種檢測模式分別為：Saw、Ramp、Square和Arbitrary，標準模式（Saw / Ramp / Square Mode）可設定1 ~ 50個Steps與時間間格1 ~ 600秒間可任意調整更新率（Refresh Rate），並且任意模式（Arbitrary Mode）最多可設定同時5個Period切換，涵蓋完整的面板更新率測試功能。（選配）
▲ SAW
▲ Ramp
▲ Square
▲ Arbitrary
透過日本ITE協會(The institute of Image Information and Television Engineers)授權，可提供多種8K超高解析度廣色域測試圖。(選配)
本機應用範圍：面板製造廠商、驅動IC設計、維修中心、PCB基板測試、自動化檢測設備商、IC老化測試、示範模擬、產品驗證等。
Panel Manufacturer
Driver IC Design
Repair Center
PCB Substrate Testing
Automatic Testing
Equipment Manufacturer
IC Reliability Testing
Demonstration
Product Verification
