VLSI 測試系統 Model 3380

VLSI測試系統
產品特色
  • 50/100 MHz 測試頻率
  • 50/100 Mbps 數據速率
  • 1024 I數字通道管腳 (最高1280數字通道管腳)
  • 高達1024 sites 並行測試
  • 32/64/128 pattern 記憶體
  • 16M capture memory per pin
  • 多樣化 VI 電源
  • 彈性化硬體架構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
  • Real parallel trim/match 功能
  • 時序頻率測試單位 (TFMU)
  • 高速時序測試單位 (HSTMU)
  • 支援STDF工具
  • 測試program/pattern轉換器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
  • AD/DA功能板卡 (可選配)
  • SCAN向量存儲深度(最高 2G bits/chain) (可選配)
  • ALPG 測試功能可供記憶體IC用 (可選配)
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 軟件介面與3380P/3360P相同
  • 人性化的Windows 7操作系統

為因應未來IC晶片腳位數更多、速率更高、整合功能更為複雜的發展驅勢,Chroma以此發展方向提供新一代3380系列VLSI測試機台,包含 3380D、380P、3380機型,根據不同的腳位數或同測能力(Parallel Test),提供需求與成本效益兼具的測試解決方案。

此系列機型之一的VLSI測試系統3380,具有最高1280 I/O pins、256 VI、彈性化架構、以及完整選項功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色;可符合高同測的市場驅勢,具備1024 I/O pin可同測1024個晶片的能力。除了獨特的4-wire高密度IC電源(VI source)外,彈性化可調整的架構還可提供Mini&Macro LED驅動IC、CMOS影像感測器(CIS)、及3D影像測試等解決方案;以利涵蓋更廣泛的IC測試功能與應用範圍。

3380 VLSI測試系統可無縫接軌3380D(256pins)與3380P(512pins),以因應更高的產能需求。3380系列VLSI測試系統無論在裝機、穩定度、友善使用介面、及成本效益上,長期以來皆已於中國市場獲得廣泛印證。

 應用範圍

  • 微控制器單元 (MCU)
  • ADC/DAC混和訊號IC
  • 邏輯IC
  • ADDA
  • ALPG
  • Smart Card
  • Mini&Macro LED驅動IC
  • CMOS影像感測器 (CIS)
  • 電源IC (Class D IC)
  • 消費性IC
  • LED驅動IC

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