VLSI 測試系統 Model 3380P

VLSI測試系統
產品特色
  • 50/100 MHz測試頻率
  • 50/100 Mbps數據速率
  • 512數字通道管腳 
    (最高可至576數字通道管腳)
  • 並行測試可達512 sites同測數
  • 32/64/128M Pattern記憶體
  • 多樣彈性VI電源
  • 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
  • Real parallel Trim/Match功能
  • 時序頻率測試單位 (TFMU)
  • AD/DA功能板卡(16/24 bits) (可選配)
  • SCAN向量存儲深度(最高2G bits/chain) (可選配)
  • ALPG測試選配供記憶體IC用
  • STDF工具支援
  • 測試程式/pattern轉換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
  • 人性化Window 7操作系統
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 軟件介面與3380P/3360P相同
  • Direct mount治具可相容於3360P probe-card
  • Cable mount治具可相容於3360D與3360P

為因應未來IC晶片須具備更高速度及更多腳位及更複雜功能的IC晶片,Chroma新一代VLSI測試系統3380D/3380P/3380除採用更彈性架構外,整合密度更高且功能更強大。

3380D/3380P/3380機型為因應高同測(High Parallel Test)功能,除內建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外,更具備Any Pins to Any Site高同測功能(512 I/O pin可並行測512個測試晶片),以因應未來IC晶片更高的測試需求。

3380P同時具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機台性價比。

3380系列VLSI測試系統無論在裝機、穩定度、友善使用介面、及成本效益上,長期以來皆已於中國市場獲得廣泛印證。

 滿足各種應用範圍的晶片測試

Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal) ; Power, LED driver, Class D ; SCAN, ALPG, Match and etc.


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