VLSI 測試系統 Model 3380D

VLSI測試系統
產品特色
  • 50/100 MHz測試頻率
  • 50/100 Mbps數據速率
  • 256數字通道管腳
  • 並行測試可達256 sites同測數
  • 32/64/128 M Pattern記憶體
  • 多樣彈性VI電源
  • 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
  • Real parallel Trim/Match功能
  • 時序頻率測試單位 (TFMU)
  • AD/DA功能板卡 (16/24 bits) (可選配)
  • SCAN向量存儲深度(最高 2G bits/chain) (可選配)
  • ALPG測試選配供記憶體IC用
  • STDF工具支援
  • 測試程式/pattern轉換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
  • 人性化Window 7操作系統
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 軟件介面與3380P/3360P相同
  • Direct mount治具可相容於3360P probe-card
  • Cable mount治具可相容於3360D與3360P

為因應未來IC晶片腳位數更多、速率更高、整合功能更為複雜的發展驅勢,Chroma VLSI測試系統3380D/3380P/3380除採用更彈性架構外,整合密度更高,且功能更強大。

3380D/3380P/3380機型為因應高同測功能(High Parallel Test),除內建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外,更具備any-pins-to-any-site高同測功能(256數字通道管可並行測256個測試晶片),以因應未來IC晶片更高的測試需求。

3380D/3380P/3380系列同時具備機框式直流電源供應的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機台性價比。

3380D VLSI測試系統非常適合應用於IoT相關的晶片測試,尤其是一些具成本壓力的元件如整合功能之MCU、MEMS等,VLSI測試系統3380D/3380P/3380系列開發至今,已在大中華地區被廣泛的採用。

 滿足各種應用範圍的晶片測試

如Logic, ADDA, RF(MCU), LED, Power, ALPG, Match等


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