Chroma 11090-030射頻LCR錶為一提供貼片電感及射頻濾波器等被動元件高頻量測評估解決方案。其高達300MHz的測試頻率，對於POL或一般小型DC-DC Converter之電感元件，不僅滿足日益增高的標稱頻率測試外，更可滿足需要於超高頻檢測才能測出之品質異常。此外，同樣能滿足如EMI-Filter、Ferrite Bead等慣用的100MHz阻抗測試需求。
涵蓋量測項目 Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q 等各種被動元件測試所需的主、副參數。100kHz~300MHz的寬廣測試頻率範圍，採用RF式電流電壓轉換技術，其優於網路分析儀技術的阻抗量測範圍，高於自動平衡橋技術的頻率量測範圍，適合研發與品保單位分析被動元件於不同頻率下的特性。此外，搭載超低雜訊、低諧波失真訊號產生模組，賦予量測訊號高品質純淨度，進而提升阻抗測試的準確性。
0.8%的基本量測準確度使量測結果呈現高穩定性與高可靠性，0.5ms的快速量測可搭配自動化機台，能有效率地大幅提高產量。符合多種小型的SMD測試治具，採用改進的下壓方式，可旋轉90度並僅需三個步驟來更換待測物(實際測試約40秒)，能替使用者減少更換不同尺寸待測物的時間、加快測試速度、免除反覆拆裝限位墊片，進而減少損耗與後續客戶的維護費用。
Chroma 11090-030射頻LCR錶藉由全面性設計的規格考量與重點式的功能強化，不論是在產品特性研發與分析、自動化產線快速測試或是各式零件進出料管理，皆為完善的測試解決方案，為您提供市場上少數既有解決方案之外全新的選擇。
高頻小型化的功率電感多為金屬壓模式電感，但①原始磁材不良(金屬顆粒大/鐵氧層不良)或②層間耐壓測試後局部鐵氧層破壞或③線圈漆包破損與磁材直接接觸都會造成Q值降低，在後續使用容易過熱。要檢出此三類異常，以一般感量之標稱頻率測試狀態，因電感阻抗狀態低，Q值多被探針接觸電阻所左右。
故提高測試頻率進而提高感抗以降低探針接觸電阻之影響，可提升磁材異常與線材絕緣異常的檢出率，此方法廣為業界所採用。
導磁金屬粉末表面大都處理氧化層來降低高頻交流帶來的渦流損失來提高可使用頻域，降低損失及溫升，但一般使用者是無法從外觀知道磁材的顆粒大小與經過壓模燒結後氧化層是否完好，但透過高頻測試則容易判別。
電感在高頻的等效電路與Ls與Q的關係式如(圖一)，一般業界雖以接近電感自振頻率(SRF)之Ls在檢測前述品質異常，實質上是在檢測其Q值是否低下，但可避開接觸電阻影響。一般正常品在SRF附近Ls因寄生容量關係較高，異常品則受損失過大所累Q值低下，表象Ls也偏低。Chroma11090-030 100kHz~300MHz測試頻域滿足標稱Ls/Q與高頻Ls@HF的雙重測試需求，可滿足此類電感在生產的使用需求，另外在其RD與品保或電感使用者都很適用。
▲ (圖一) 電感在高頻的等效電路與Ls與Q的關係式
▲ (圖二) 取樣品實測兩個曲線說明
Chroma 11090-030採用RF-IV測量方法量測待測物(DUT)的電壓和電流，與一般網絡分析儀相比較，此儀器能夠在較寬的阻抗範圍(100mΩ~5kΩ)內進行更準確的測量，其優勢在於可測量的電感值非常小，約為數個nH。此外，11090-030具備100kHz~300MHz的寬範圍測試頻率，若待測物的測試有數百kHz以及高頻數MHz雙頻以上需求時，生產測試儀器則不用分兩台或兩站進行測試，故能降低儀器成本。
▲ 量測時間Slow, 測試訊號 1dBm, 平均次數≧8, at 23℃
註1. Avg = 8, OSC = 1 dBm, calibration is performed (at 23 ± 5°C)
註2. Freq = 100 MHz, Ave = 8, OSC = 1 dBm, calibration is performed (at 23 ± 5°C)
註3. Freq = 1 MHz, Ave = 8, OSC = 1 dBm, calibration is performed (at 23 ± 5°C)
校正/補償指引功能
射頻LCR測量非常依賴正確的校正(OPEN/SHORT/LOAD)，過程錯誤或漏掉某一項則很容易造成錯誤的結果。11090-030具有嚮導功能的校正/補償方法能消除繁瑣的校正/補償程序之錯誤，讓使用者具有引導式校正程序，降低漏掉項目的風險、並且有圖示指引降低取錯標準件的錯誤，對於已完成校正程序者，測試畫面也有對應的顯示。
▲ 校正/補償程序設定
▲ 校正程序設定
▲ 補償程序設定
提供磁性元件以Rdc為接觸檢查
射頻LCR錶對應之SMD元件一般尺寸都很小，在對應測試治具或自動化測試之接觸好壞皆很難直觀確認。11090-030提供磁性元件以Rdc為接觸檢查功能，由於Rdc為一無需校正之參數，而且在磁性元件(電感、EMI Filter、bead)之接觸確認最為直接，此功能協助生產線中的測試達到更精準的分揀錯誤，提高不良品分類的準確性和效率。
多參數比較與分類功能
射頻測試在不同頻域的良品或不良品判定可能因其參數不同，使用絕對值或百分比不同、注重之主副參數不同、高低判定方式也不同。Chroma 11090-030提供非常具彈性的表列式，且最多達13 bins，每個bin有四個限制值。頻率和測量參數等條件可以在每列中獨立設置，使11090-030能夠滿足多樣性的分選需求，包括不同測量頻率下的不同參數。
~401點之多點測試與曲線繪圖功能
RF元件常需跨多頻域分析其參數頻響變化，11090-030多點量測功能可設定最多401點，提供使用者更詳細且精準的量測數值，同時可以選擇多點列表與特性曲線繪製提供生產測試或分析人員快速瞭解元件頻率特性。
▲ 多點列表
▲ 多參數曲線同時繪圖
▲ 單一參數曲線繪圖
清晰與引導式操作
採用觸控、全彩、高解析度液晶顯示，同時清晰顯示多參數測試結果與設定狀態及比較或分選結果或與參考值的差異，並且以簡潔的圖標指示儀器狀況與指引快速操作，替使用者提供更直觀操作及更完整的資訊。
專利TW M621845 / CN 216013502U
SMD尺寸細微且多元，需要極度精密的特殊材料提供限位，但若更換尺寸皆需重新組裝限位墊片，不僅耗時且容易損耗昂貴的組件與限位墊片。符合多種小型的SMD測試治具，採用改進的下壓方式，可旋轉90度並只需要三個步驟來更換待測物(實際測試約40秒)，能替使用者減少更換待測物時間、加快測試速度、免除反覆拆裝限位墊片，進而減少損耗與維護費用。
11090-030擁有完整的介面配置，其中包含了設定量測條件、觸發量測動作、判定量測結果與蒐集量測數據的通訊介面，更包括 LAN、GPIB、USB(B-Type)、RS-232介面與儲存介面USB(A-Type)，以及可藉由Handler介面觸發量測並將此判斷結果傳送至外部。
▲ 註：USB接頭連接不可用於『行動電源充電』、『手機充電』或是『電流需求超過0.5A』的連接設備。
